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覆层测厚仪原理简述
覆层测厚仪原理简述：

无损检测技术是一个**的理论,和高度重视的实践非常有前途的学科。它涉及材料的物理性质、产品设计、制造过程中,断裂力学和有限元计算,和许多其他方面。
在化工、电子、电力、金属等,为了实现各种材料的保护或装饰效果,通常覆盖着喷,有色金属和磷化、阳极氧化处理方法,通过这种方式,有涂料、涂料、涂料、贴一层或化学等概念生成膜,我们称之为“覆盖”。
涂层厚度测量已成为金属加工行业用户必要的成品质量检验*重要的工序。基本手段是产品符合质量标准。
目前,国内外已广泛按照统一的国际标准对涂层厚度的确定,包层,无损检测方法和仪器的选择以及循序渐进的研究材料物理性能更重要。
包层无损检测方法,主要包括:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等
除了五种大多数这些方法后会损害产品或产品表面,损伤检测,测量和繁琐,缓慢,更适合抽样检验。x射线无损测量和β射线反射法不能接触,但复杂的,昂贵的,小的测量范围。由于放射性源,因此,用户必须遵守辐射防护规范,在每一层更常用的金属镀层厚度测量。电容方法通常只在非常薄的厚度的绝缘导电涂层应用程序的测试。
磁测量方法和涡流测量方法,随着技术的日益进步,特别是近年来在微处理器技术的引入,测厚仪微,聪明、多功能、高精度、可行的方式向前迈进的重要一步。测量的分辨率已达0.1μm,精度可以达到1%,适用范围宽,范围广泛,操作简单,价格低廉。是应用*广泛的工业和科研仪器。

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